一家專注于半導體、集成電路、LED老化測試體系、工業主動化測試檢測産品的設計、研發、發賣和供給相幹檢測技術辦事和支撐的科技公司。
實驗目標：考察産品在劃定的前提下，在全進程任務時光內的質量和靠得住性。爲了使實驗成果有較好代表性，參試的樣品要有足夠的數目。
實驗前提：集成電路老化實驗分爲：穩態壽命實驗、間歇壽命實驗和模仿壽命實驗。
穩態壽命實驗是微電路停止的實驗，實驗時請求被試樣品要施加恰當的電源，使其處于正常的任務狀況。國度尺度的穩態壽命實驗情況溫度爲125℃，時光爲：1000H。
功率型微電路管殼的溫度普通大于情況溫度，實驗時堅持情況溫度可以低于125℃．
集成電路穩態壽命實驗的情況溫度或管殼的溫度要以微電路結溫等于額外結溫爲基點<普通在175℃一200℃之間)停止調劑。
間歇壽命實驗請求以必定的頻率對被試微電路割斷或忽然施加偏壓和旌旗燈號，其它實驗前提與穩態壽命實驗雷同。
模仿壽命實驗是一種模仿集成電路運用情況的組合實驗。它的組合無機械、濕度和低氣壓實驗：機械、溫度、濕度和電應力實驗等。
國際外廣泛采取低溫老化測試工藝來進步電子産品的穩固性和靠得住性，經由過程低溫老化測試可使元器件的成績、焊接和拆卸等臨盆過程當中存在的隱患提早裸露，包管出廠的産品能經得起時光的考驗。
老化測試體系普遍運用于半導體、集成電路、電子元器件、DSP、FPGA、CPLD、DRAM, SRAM, FLASH內存器件和邏輯電路.
相符尺度：GJB548（同等MIL-STD-883）GJB597（同等MIL-M-38510）
| 體系分區 System Zone | 4 區 （Z1，Z2, Z3, Z4) |
| 實驗容量 Testing Capacity | 多到64 片老化板 Burn In Boards |
| 實驗溫度 Testing Temperature | 可達150℃ |
| 數字旌旗燈號 Digital Signal | 96路自力的高速數字旌旗燈號產生單位，頻率可達10MHz, 各通道可自力界說輸出/輸入屬性；旌旗燈號上升、降低沿時光小于10ns |
| 模仿旌旗燈號 Analog Signal | 單路多品種模仿旌旗燈號產生單位及驅動電路，頻率可達1MHz |
| 任務特征 Operation Feature | 基于JTAG的界限掃描單位電路具有老化測試法式自在加載、外部邏輯功效和I/O管腳充足監測的才能 。 體系針對各類DSP、FPGA老化器件供給了代碼籠罩較高的老化測試法式，完成了邊老化邊測試（TDBI). |
| 通信速度 Communication Rate | 500K |
| 二級電源 Secondary Power Supply | 呼應二級電源模塊，電壓可輸入1V |
| 電源請求 Power Required | 輸出AC380V，50Hz,三相；零件功率：6KW以下 |
| 分量 Weight | 約 600Kg |
1．將耗時的功效測試移到老化中可以勤儉昂貴的高速測試儀器的時光。假如老化後只停止參數測試及很少的功效測試，那末用現有設備可測試更多器件，僅此一點便可抵消因采取老化測試計劃而產生的費用。
2． 到達預期毛病率的現實老化時光絕對更短。曩昔器件停止首批老化時都要先經由168小時，這是人們希冀發明壹切晚期毛病的尺度肇端時光，而這完整是由於手頭沒有新器件數據而至。在隨後的半年時代，這個時光會賡續延長，直到用試驗和誤差剖析辦法獲得現實所需的老化時光爲止。在老化同時停止測試則可以經由過程檢討老化體系生成的及時記載實時發明發生的毛病。盡快控制老化時光可進步産量，下降器件本錢。
3． 實時對臨盆工藝作出反應。器件毛病有時直接對應于某個制作工藝或許某臨盆設備，在毛病產生時實時懂得信息可連忙處理能夠存在的工藝成績，防止制作出大批不及格産品。
4． 確保老化的運轉情形與希冀符合。經由過程監測老化板上的每壹個器件，可在老化一開端時就先改換曾經壞了的器件，如許應用者可確保老化板和老化體系按事後假想的狀態運轉，沒有産能上的糟蹋。
Burn-in System老化體系表示圖 |
Software Interface體系軟件界面表示圖 | |
Burn-in Board老化板 |
Layout Design:布線設計 |
Driver Board 驅動板 |
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