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鎢燈絲掃描電子顯微鏡 檢測辦事中心面向集成電路、電子元器件、半導體、PCBA、LED、汽車電子、新資料等,爲客戶供給包含無損剖析、生效剖析、物感性能測試、微納剖析、靠得住性與壽命評價、工藝制程等在內的技術處理計劃。


鎢燈絲掃描電子顯微鏡

型號Inspect S


廠家:美國FEI

重要用處在高真空、低真空情況對樣品各類資料的描寫組織視察、金屬資料斷口剖析和生效剖析。
機能目標1.加快電壓:200V-30 kV2.縮小倍數:7-1,000,000
3.可在高真空、低真空(270Pa) 下視察樣品
樣品室284mm
分辯率

高真空 - 3.0nm at 30kV (SE)

       - 4.0nm at 30kV (BSE)

       - 10.0nm at 3kV (SE

低真空 - 3.0nm at 30kV (SE)

       - 12.0nm at 3kV (SE)

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新竹快亦轉文化傳媒有限公司

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