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透視電子顯微鏡 檢測辦事中心面向集成電路、電子元器件、半導體、PCBA、LED、汽車電子、新資料等,爲客戶供給包含無損剖析、生效剖析、物感性能測試、微納剖析、靠得住性與壽命評價、工藝制程等在內的技術處理計劃。


透射電子顯微鏡

型號:HT7700

廠家:日立

重要用處HT7700型透射電子顯微鏡是一款全新設計的高等顯微鏡,專門用于生物和納米資料的視察。特別實用于對低襯度和不耐電子輻照的資料,同時具有極高的比較度和高分辯率的成像功效,其裝備的STEM探測器可以經由過程掃描電子束獲得明場透射像。該電鏡采取及時電荷耦合裝配拍照機代替雙筒顯微鏡視察樣品,完成了操作人員可在正常室內光照前提下視察樣品。
重要設置裝備擺設1.主拍照機2.STEM探測器
3.及時電荷耦合熒光屏拍照機4.單傾樣品杆
機能目標1.LaB6電子槍2.加快電壓:40-120 kV 
3.縮小倍數:200 – 200,000(高反差形式)

           4,000 – 600,000(高分辯率形式)

            50 – 1,000(低倍形式)


4.晶格分辯率:0.24nm@100kv
5.換樣時光小于1min.

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